泛胜FS-PAR作物冠层分析仪
泛胜FS-PAR作物冠层分析仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。
新型调制叶绿素荧光成像系统IMAGING-PAM
全叶片荧光成像，精确到每个像素，光合作用横向异质性分析，多达17个荧光参数，代表了调制叶绿素荧光技术的未来发展趋势。
DDY泛胜微电脑茎秆强度仪
DDY泛胜微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺，压碎、和弯曲强度，茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力，即茎秆的强度。
FS-PAR植物冠层测量仪
FS-PAR植物冠层测量仪可广泛应用于农业生产和农业科研，为进行冠层光能资源调查，测量植物冠层中光线的拦截，研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系，本仪器用于400nm－700nm波段内的光合有效辐射（PAR）测量、记录。
LAM-B便携式快速叶面积仪
LAM-B便携式快速叶面积仪是一种使用方便、可以在野外工作的便携式仪器。可以精确、快速、无损伤地测量叶片的叶面积及相关参数，也可对采摘的植物叶片及其它片状物体进行面积测量。